Hem Raj Verma
Atomic and Nuclear Analytical Methods
XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Gebonden Engels 2007 2007e druk 9783540302773
Verwachte levertijd ongeveer 9 werkdagen
Samenvatting
This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.
Specificaties
ISBN13:9783540302773
Taal:Engels
Bindwijze:gebonden
Aantal pagina's:376
Uitgever:Springer Berlin Heidelberg
Druk:2007
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan