Ronald G (Purdue Univ, Usa) Reifenberger
Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Gebonden EN 2015 9789814630344
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen
Samenvatting
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
Specificaties
ISBN13:9789814630344
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:340
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan